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泰克S530參數化測試系統(tǒng) S530 參數化測試系統(tǒng) 適用于必須操作各種設備和技術的生產和實驗室環(huán)境，提供業(yè)界領xian的測試計劃靈活性、自動化、探頭測試臺集成以及測試數據管理功能。Keithley 擁有超過 30 年的專業(yè)經驗，針對這些測試解決方案的設計向*的客戶提供各種標準和自定義參數化測試儀。

泰克S500集成式測試系統(tǒng) S500 集成式測試系統(tǒng) 是高度可配置的、基于儀器的系統(tǒng)，適用于器件、晶片或暗盒級半導體檢定。S500 集成式測試系統(tǒng)基于我們經過驗證的儀器，提供創(chuàng)新的測量功能和系統(tǒng)靈活性，并且根據您的需求可進行擴展。*的測量能力結合強大而靈活的自動化檢定套件 （ACS） 軟件，提供市場上其他同類系統(tǒng)無法提供的廣泛應用和功能。

泰克2600-PCT-4B參數曲線跟蹤儀 開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley 高功率參數化波形記錄器系列的配置支持所有的設備類型和測試參數。 Keithley 參數化波形記錄器配置包括檢定工程師快速開發(fā)全面測試系統(tǒng)所需的一切。

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